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Il gruppo Microtest presenta DS6 Pulsar

Il nuovo dispositivo sviluppato dalla controllata IpTEST migliora l’efficienza della produzione dei chip di potenza dell'industria automobilistica e dei materiali Wide Band Gap (WBG).

Redazione ImpresaGreen

Il Gruppo Microtest, leader europeo nella realizzazione di sistemi di test e nel testing di microchip su package e su wafer di silicio, ha presenta il nuovo tester dinamico per interruttori DS6 Pulsar, sviluppato dalla controllata britannica ipTEST.

Il DS6 Pulsar è progettato per testare microchip destinati, tra le altre, all’industria automobilistica dei veicoli elettrici, con un focus particolare su applicazioni di stress test, ai produttori di semiconduttori di potenza e per il test di dispositivi Wide Band Gap (WBG) basati su tecnologie come carburo di silicio (SiC) e nitruro di gallio (GaN). Queste tecnologie sono sempre più rilevanti nella transizione ecologica, grazie al loro ampio utilizzo nelle batterie di nuova generazione.

Nel contesto tecnologico attuale in continua evoluzione, i dispositivi ad alta potenza devono infatti soddisfare i più recenti standard di affidabilità e prestazioni. Evoluzione del precedente modello, il DS6 Pulsar esegue i test con valori nominali di corrente e tensione 2.5 volte maggiori rispetto allo standard attuale e con un'induttanza parassita minima, affermandosi come lo strumento più avanzato sul mercato per la velocità di commutazione. Assicura inoltre la conformità agli standard di prova del settore, come AEC-Q101 e AQG 324.

Il Gruppo Microtest presenta così uno strumento all’avanguardia per i test di cortocircuito, cruciali per garantire il funzionamento in sicurezza delle componenti anche in condizioni estreme, con un miglioramento delle prestazioni di oltre il 250%.

Il DS6 Pulsar include una tecnologia avanzata di protezione da sovracorrente sviluppata dalla controllata ipTest, (ipTEST SocketSafe™) che isola rapidamente il dispositivo dal sistema in caso di guasto, proteggendo entrambi e mantenendo l’integrità del processo di test. Questo riduce la necessità di riparazioni e garantisce un’affidabilità a lungo termine con un risparmio sui costi di manutenzione.

Supporta inoltre vari tipi di test su un’unica scheda di interfaccia, abilitando una rapida riconfigurazione per diversi tipi di dispositivi e manipolatori, permettendo un utilizzo efficiente su diverse linee di produzione.



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Pubblicato il: 16/09/2024

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